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当红外天光背景测量仪研发成功并申请专利获得

发布时间:2021-09-11 20:59:05 阅读: 来源:生物质颗粒机厂家

红容易劣化外天光背景测量仪研发成功 并申请专利获得授权

中国科学技术大学近代物理系“核探测与核电子学国家重点实验室”王坚课题组经过两年的攻关,攻克了红外观测微弱信号检测、高增益灵敏放大、暗流及背景噪声抑制、高7.变形丈量精度:误差小于示值的±0.5%.真空低温封装、高精度数字锁相放大等关键技术,成功地研制出红外光谱扫描的天光背景测量装置。这是我国首台研制成功的首台红外天光背景测量仪。相关成果于 2020 年 8 月 13 日发表在 JATIS 上【J. Astron. Telesc. Instru现推出济南试金:m. Syst. 6(3), 036001 其特点噪音低、运转安稳、能耗低等特点(2020) 】。同时申请专利 “用于窄波段连续红外光谱扫描的天光背景测量装置和方法”并获得授权,专利号:ZL.4.

该仪器是根据 InSb 探测器在 2.um 波段上高响应的性能,利用线性可变滤波片在此波段线性可变的特点完成了此波段上连续扫描观测的红外天光背景测量仪。

红外观测是天文研究的重要手段。长久以来,受限于优良台址和探测器的缺乏,我国红外天文研究发展严重落后。随着我国天文研究领域的不断扩展,中国天文界拥有红外天文观测能力的愿望也更加迫切。近期我国多项大型光学红外天文观测设备项目获得天文界支持,为了保证这些大型设备建设成功后,能顺利高效地开展红外观测仪器的研制和红外天文观测研究,必须对相关候选站址进行红外天光背景的测量。在红外波段的天光背景辐射强度很大程度上限制着红外望远镜及其他观测设备的一些重要性能,如巡天深度、能够观测的极限星等、天文成像系统曝光时间等。

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